X射線探傷原理

射線照相法

射線照相法是根據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度的不同，使得射線透

過工件后的強(qiáng)度不同，使缺陷能在射線底片上顯示出來的方法。

從X射線機(jī)發(fā)射出來的X射線透過工件時(shí)，由于缺陷內(nèi)部介質(zhì)對(duì)射線的吸收能力和周圍完

好部位不一樣，因而透過缺陷部位的射線強(qiáng)度不同于周圍完好部位。把膠片放在工件適

當(dāng)位置，在感光膠片上，有缺陷部位和無缺陷部位將接受不同的射線曝光。再經(jīng)過暗室

處理后，得到底片。然后把底片放在觀片燈上就可以明顯觀察到缺陷處和無缺陷處具有

不同的黑度。評(píng)片人員據(jù)此就可以判斷缺陷的情況。

射線熒光屏觀察法

熒光屏觀察法是將透過被檢物體后的不同強(qiáng)度的射線,再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏

上，激發(fā)出不同強(qiáng)度的熒光而得到物體內(nèi)部的影像的方法。

檢驗(yàn)時(shí)，把工件送至觀察箱上，X射線管發(fā)出的射線透過被檢工件，落到與之緊挨著的熒

光屏上，顯示的缺陷影像經(jīng)平面鏡反射后，通過平行于鏡子的鉛玻璃觀察。

熒光屏觀察法只能檢查較薄且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的工件，同時(shí)靈敏度較差，更高靈敏度在

2%~3% ,大量檢驗(yàn)時(shí)，靈敏度更高只達(dá)4%~7% ,對(duì)于微小裂紋是無法發(fā)現(xiàn)的。

射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)

射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)是工業(yè)射線探傷很有發(fā)展前途的一種新技術(shù)，與傳統(tǒng)的射線照相法相

比，具有實(shí)時(shí)、高效、不用射線膠片、可記錄和勞動(dòng)條件好等顯著優(yōu)點(diǎn)。

由于它采用X射線源，常稱為X射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)。國內(nèi)外將它主要用于鋼管、壓力容器

殼體焊縫檢查，微電子器件和集成電路檢查，食品包裝夾雜物檢查及海關(guān)安全檢查等。

這種方法是利用小焦點(diǎn)或微焦點(diǎn)X射線源透照工件，利用一定的器件將X射線圖像轉(zhuǎn)換為

可見光圖像，再通過電視攝像機(jī)攝像后，將圖像直接或通過計(jì)算機(jī)處理后再顯示在電視

監(jiān)視屏上，以此來評(píng)定工件內(nèi)部的質(zhì)量。通常所說的工業(yè)X射線電視探傷，是指X光圖像

增強(qiáng)電視成像法，該法在國內(nèi)外應(yīng)用最為廣泛，是當(dāng)今射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)的主流設(shè)備

其探傷靈敏度已高于2%，并可與射線照相法相媲美。